【適用范圍】
 

　　高低溫沖擊熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

　　【工作原理】
 

　　1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；
 

　　2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。
 

　　【工作模式】
 

　　A)2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8 系統
 

　　B) 2種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
 

　　測試和循環于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫)
 

　　【主要技術參數】
 

　　設備型號： HE-ATS750
 

　　溫度控制范圍： -70℃～+250℃
 

　　沖擊溫度范圍： -60℃～+200℃
 

　　溫度轉換時間： ≤10秒
 

　　溫度偏差： 測試品恒定在-40℃時，溫度偏差為±1℃
 

　　沖擊氣流量： 1.9~8.5L/s(分為8路，每路0.23~1.06 L/s)連續氣流
 

　　溫變速率降： RT+10℃降至-40℃≤60s
 

　　試品表面溫度： RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達到，氣體溫度與樣品溫度可選擇測控
 

　　樣品盒尺寸： 直徑140mm×高50mm
 

　　制冷方式： 采用風冷式HFC環保制冷劑復疊系統，溫度可達-70℃
 

　　控制系統： 采用進口智能PLC觸摸屏控制，7寸彩色屏
 

　　試品： 帶2套1拖8 系統，金屬封裝PCB板模塊8片
 

　　外形尺寸： 寬790×高1600×深1080(mm)以實物為準
 

　　使用電源： AC 三相 五線 380V 50/60HZ
 

　　噪音： ≤65dB(A聲級)
 

　　條件： 風冷式環境溫度在+23℃時
 

　　干燥氣源： 用戶自備
 

　　注：前端空氣經干燥過濾器處理，產品測試區及附近無明顯結露現象。設備可以連續運轉不需進行除霜